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苏州晶格电子有限公司
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SZT-H型金属质量电阻率测试台

价格 ￥1500.00/台 ￥1400.00/台
起订量 ≥1 ≥5
所在地 江苏 苏州 可售量 10000台
联系人： 王娟
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公司官网： www.szjgdz.com.cn

所在地区：江苏省 苏州市

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基本参数

品牌 JG/晶格 型号 SZT-H型金属质量电阻率测试台
加工定制 是 测量范围 1.0×10^-3 ～ 2.000×10^6 Ω/□
类型 数字式电阻测量仪表 产地 苏州
是否进口 否 货号 SZT-H
尺　寸 380×200×260（长×宽×高）

产品介绍

SZT-H

 

   基本功能：SZT-H型金属质量电阻率测试台配以四探针仪器构成成套测试系统，是运用四端子测量原理的专业测量金属箔类（质量）电阻率/方阻的多用途综合测量装置。（以下简称测试台）

 

   基本组成：测试台测试电极组、升降台、支架、连接线缆等部件组成。

 

   配套与兼容：本测试台兼容本公司所有台式四探针测试仪器。本测试台可兼容国内同行绝大多数四探针电阻率/方阻测试仪器。

 

   优势特征：SZT-H质量电阻率测试台符合国标《GB/T 5230-1995》中对金属箔类质量电阻率测试要求，测试电极采用铜质刀架制成，故定位准确、游移率小、接触良好；测试结果由数字表头直接显示。仪器具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好、智能化程度高、结构紧凑、测量简便等特点。

 

   仪器适用于金属薄膜材料厂、半导体薄膜材料厂、橡塑材料厂、电容器厂、科研单位、高等院校等对半导体或金属薄膜材料的方阻、电阻率性能的测试。特别适用于要求快速测量中低方阻及要求结果分选的场合。

 

 

 

使用方法

 

  ST2258A型多功能数字式方阻测试仪能够测量普通电阻器的电阻（修正系数1.000）和半导体、导体薄膜的方块电阻，（需调整不同的修正系数）。

 

  1. 操作概述

 

  (1) 测试准备：

 

  电源开关置于断开位置，将电源插头插入电源插座。对于金属箔类样品、非金属薄膜样品，将SZT-H测试台的测试插头与主机的输入插座连接起来,参照国标《GB/T 5230-1995》中，制备测试时样品，长L0=330mm,宽W=25mm； 对于电阻测量，用四端子测量线作输入线，按图3-2所示夹持好样品。调节室内温度使之达到要求的测试条件。将电源开关置于开启位置，数字显示窗亮。如图1-1

 

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                      图1-1 连机操作

 

  (2) 参数设定：

 

仪器开机默认状态为“设定” 模式，ST2258A面板示意图，窗口左侧“设定”模式灯亮，通过键盘输入需要的修正系数。仪器默认修正系数F=1.000,即电阻测量方式可直接切换到“测量”模式而不需设定修正系数。否则需要输入需要的修正系数，如需要分选功能的输入各分选界限值，不需分选功能，不输入各分选界限值不影响测试，显示分选结果无意思。

 

  (3)测量：（金属箔类样品）

 

设定完毕，切换仪器到“测量”模式。窗口左侧“测量”模式灯亮，按照标准制取样品，长度330mm,宽25mm.如图1-2

 

 

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        图1-2金属箔类样品图       

 

 

 


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              图1-3A                              图1-3B

 

   如图1-3A，将SZT-H测试台顶端快速扳手向上向后打到底，抬起测试电极组。将样品平展置于测试台底板上，注意，样品长轴方向与电极刀刃方向垂直，样品宽度在刀刃长度范围之内。如图0-3B，向前向下压下快速扳手，压下测试电极组，保持电极刀口与样品适当压力，良好接触，由数字显示窗直接读出测量值和分选结果。

 

   注意：刀刃对样品的压力调整方式是，调节测试台后侧导轨支架中部螺杆上的螺母（先松开锁紧螺帽），观察电极上方导向螺杆伸出程度，一般以1cm左右为宜，压力调好后，锁紧锁紧螺帽。

 

如图 1-4

 

图片7 

 

              图1-4 测试压力调整螺母示意图          

 

  注意：

 

  1 测试台底板、测试电极及样品要保持清洁，以免接触不良和漏电影响测试准确性。

 

  2 对于测试前期样品有预处理要求的，如清洗，烘干，需要样品盒一起进行的，不得接触对电极材料有腐蚀性的清洗剂，烘烤温度不得高于150℃，对于因高温引起电极表面氧化严重的，可能影响测试导通的，要用细沙纸轻檫表面以清除表面氧化层。

 

 

技术参数(配ST2258A型多功能数字式四探针测试仪)

 

1.1 测量范围、分辨率

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      图1-1A(测试台膜宽与方阻测量范围)      图1-1B(测试台截面与电阻率测量范围)

 

（1）方阻测试范围*（以配SZT-H测试台为例）

 

测量膜宽：1mm≤B≤50mm

 

基本方阻测量值： 1.0×10-6～ 1.2×103 Ω/□， 分辨率：1.0×10-7～ 1.0×100 Ω/□。

 

具体膜宽w与测量范围关系见图1-1A。

 

（2）电阻率测试范围（以配SZT-H测试台为例）

 

（厚度d<10mm,宽w<50mm）

 

基本电阻率测量值： 1.0×10-6～1.2×103 Ω*cm， 分辨率：1.0×10-7～1.0×100 Ω*cm。

 

具体截面s与测量范围关系见图1-1B。

 

1.2 SZT-H测试刀架：

 

⑴电压刀片间距：150mm±0.2% ，刀刃长60mm

 

⑵电流刀片间距： 300mm，刀刃长60mm

 

⑶测试台架外型尺寸：380×200×260（长×宽×高）

 

 

三、详情请登陆苏州晶格电子有限公司官方网站http://www.jgdz.com.cn 或

 

阿里巴巴诚信通网址http://dhl7002.cn.alibaba.com

 

慧聪网买卖通商铺http://jgdz2010.b2b.hc360.com

 

查看《SZT-H金属质量电阻率测试台技术使用说明书》

 

四、联系方式：18914021918/0512-80973697/66050595(传真)  QQ:1064887318 丁先生

 

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