苏州晶格电子有限公司

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SZT-K1型两探针电阻率测试台

价格	￥4000.00/台	￥3800.00/台
起订量	≥1	≥5
所在地	江苏苏州	可售量 0台

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基本参数

产地	苏州	是否进口	否
加工定制	是	货号	SZT-K1
类型	数字式电阻测量仪表	品牌	JG/晶格
型号	SZT-K1型两探针电阻率测试台	测量范围	1.0×10^-3 ～ 2.000×10^6 Ω/□

产品介绍

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基本功能：SZT-K1型两探针电阻率测试台，是用来装夹棒类样品（圆或方截面），连接四探针测试仪器，进行两探针法电阻率测试的机具。是两探针法测试电阻率仪器的配套测量装置（以下简称测试台）。设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》，GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》，GBT 24525-2009 《炭素材料电阻率测定方法》。

基本组成：测试台主要有底板、双轨水平导向单元、探头水平移动及测试压力调节单元、左右样品装夹单元等。

配套与兼容：本测试台自带两探针测试探头，兼容本公司大部分四探针测试仪器。

二、基本参数和可测半导体材料尺寸

两探针针距：10mm,15mm,20mm可调

可测样品

直径或边长: 圆截面≤ Φ50mm，或≤ 50mm×50mm方截面。

长(或高)度：两端面顶持方式L≤420mm, 侧面夹持方式不限.

测量方位：轴向（长度方向）。

使用方法

3.1 放置样品：

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根据样品长短和需要选择样品装夹方式，对于较粗短的适合用两端面对顶夹持方式，如图1。对于较细长的样品适合用两端侧面夹持的方式，如图2。

两端面夹持的方式样品放置操作步骤如下：

首先，把红色扳手向上向后板起，把两探针测试探头向上抬起，便于样品装夹，图3,转动测试台底板右侧手轮，使得右装夹电极单元移动到左右电极距离稍大于样品长度，如图3，左手托起样品，水平置于两电极之间，参照左右电极的“V”型槽和测试探头探针位置，将样品水平置于探头探针正下方，合适的垂直高度，右手转动手轮，向左移动右电极将样品从两端面夹紧。如图4。为了样品和电极接触良好，最好在接触面垫上炭纸，下同。

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