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基本参数
| 品牌 | ELITE | 重量 | 90kg |
| 类型 | 镀层测厚仪 | 电压 | 220v |
| 产地 | 深圳 | 测量方法 | X射线荧光光谱 |
| 适用范围 | 多元素分析仪器 | 测量面积 | 最小0.002mm2 |
| 测量范围 | 23层镀层，24钟元素 | 仪器优势 | 同元素不同层分析 |
| 仪器特点 | 可变焦对焦 | 型号 | XAU-4C(B) |
| 测量时间 | 3-200s |
性能优势：
1.微小样品检测：最小测量面积0.03mm2（加长测量时间可小至0.01mm2）
2.变焦装置算法：可改变测量距离测量凹凸异形样品，变焦距离可达0-30mm
3.独创的EFP算法：Li(3)-U(92)元素的涂镀层，多层多元 素，甚至有同种元素在不同层也可精准测量。
4.先进的解谱技术：减少能量相近元素的干扰，降低检出限。
5.高性能探测器：SDD硅漂移窗口面积25mm2探测器。
6.X射线装置：微焦加强型射线管搭配聚焦装置。
核心的EFP算法
专业的研发团队在Alpha和Fp法的基础上，多元迭代开发出EFP核心算法，结合先进的光路转换的技术、变焦结构设计及稳定的多道脉冲分析采集系统，只需要少量的标样来校正仪器因子，可测试重复镀层、非金属、轻金属、多层多元素以及有机物层的厚度及成分含量。
RoHS检测及标定
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