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日本NF测试仪ZM2371-ZM2372-ZM2376阻抗电解电容LCR测量仪

价格	￥19000.00/台
起订量	≥1
所在地	上海上海	可售量 10台

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基本参数

品牌	日本株式会社NF回路设计	型号	ZM2372
类型	智能LCR测量仪	外形尺寸	260x88x220mm
显示方式	数显式	重量	2.1Kg
产地	日本

日本NF测试仪ZM2371-ZM2372-ZM2376阻抗电解电容LCR测量仪
实现快速、准确的稳定测量
LCR测量仪系列
满足研究所需求、生产线需求

ZM2371 基本精度 0.08％，频率范围 1mHz～100kHz , 测量速度 Fastest 2ms

ZM2372 基本精度 0.08％，频率范围 1mHz～100kHz , 测量速度 Fastest 2ms，
4端子的接触检查功能，处理机接口

ZM2376 基本精度 0.08％，频率范围 1mHz～5.5MHz , 测量速度 Fastest 2ms，
接触检查、低容量检查

测量范围覆盖从1mHz低频领域到5.5Hz高频领域的NF LCR 测量仪ZM系列
实现了快速且偏差小的稳定测量，可对应从材料研究到零部件生产线等的各种用途

偏差小的高再现性
按照以下条件使用ZM2372和ZM2376，对1nF的电容反复测量200次后得到的结果。
使用ZM2376，测量的再现性得到了进一步提高。
测量时间：5ms
测量频率：100kHz
测量信号电平：1V

对应快速，高精度且广范围的测量
宽频测量范围和高分辨率设定
ZM2371/ZM2372覆盖了1mHz～100kHz、ZM2376覆盖了1mHz～5.5MHz的频率范围。并可设定5位数/6位数的分辨率*

，因此除了在实际使用频率对各种部件进行测量外，还可以对参数的频率依赖性进行评价。
*ZM2371/ZM2372：5位数、ZM2376：6位数

广域的测量电平和ALC功能
对10mVrms～5Vrms/1μArms～200mArms的测量信号电平可进行3位数分辨率的设置。另外，利用ALC（自动电平

控制）功能可以设置定电压/定电流驱动，因此可用考虑到试样电压/电流依赖性的稳定驱动信号来驱动，可实

现高再现性的测量。

快速测量
测量时间可以在RAP (Rapid)，FAST，MED (Medium)，SLOW，VSLO (Very Slow) 这5种等级切换。选择RAP，可

以实现2ms (1kHz/1MHz)、10ms (120Hz) 的快速测量。快速、准确的LCR测量仪有助于提高生产线及自动检查装

置的测量效率。

准确
实现了基本精度0.08%、显示分辨率most 6位数的高精度测量。值得信赖的测量在从most先端器件的开发到检查

线零部件分选，对提高产品性能和品质不可或缺的。

DC偏置电压
ZM2371/ZM2372内置了0～＋2.5V、ZM2376内置了0～＋5V的DC偏置用电源，可以测量电解电容等极性零部件。
ZM2376还可以快速测量锂离子电池（单电池）等的阻抗。
另外，如果使用选购的DC电压偏置适配器*，可在试样上加载
±40V的偏置电压，测量大容量积层陶瓷电容的电压依赖性等。
*选购

DM2372 DC电压偏置适配器.jpg

直流电阻 (DCR) 测量
可测量线圈及变压器的卷线电阻的直流电阻。可以同时在主参数中显示电感，在副参数中显示直流电阻的测量

值。

面向产线的功能也很充实！

接触检查功能
-- ZM2372
4端子接触检查
为了防止因测量先端部与零部件间接触不良造成的误测量或错误分选，ZM2372采用4个测量端子来进行接触检查

判断，由此排除不良产品。
（进行接触检查的额外时间 4ms)

ZM2372 LCR测试仪步骤.jpg

步骤1：
检查点线之间是否接通
（接触检查）

接触不良时做出不良判定

步骤2：
步骤1的接触检查后，进行点线间测量（主测量）

ZM2376
接触检查、低容量检查
检测异常的低容量及电压、电流，无需额外时间就能检测出不良接触。

触发电路同步驱动
可以只在接触期间驱动试样的功能。
可以降低在测量大容量电容时，由于安装拆卸试样造成的接触损伤。在短时间内进行测量履历特性的试样，测

量值会出现较大的误差。如使用触发电路同步驱动的话，加在各试样上的驱动信号和取得信号的时间以及相位

关系都是固定的，可以抑制测量值的误差，大幅缩短测量时间。

偏差显示
预先设置测量部件的显示值，可显示与预设值的偏差、偏差%。可应用于零部件容许差的规格值的合格判定及

温度特性试验等。

比较器
主参数MAX大可分为14个*的BIN类别，在副参数中可以对设定好的1组上下限值的测量结果进行分选。测量值可

通过偏差或偏差%进行分选，判定结果通过处理器接口*输出。另外，根据判定结果，有时会发出哔噗的声音。
在远程控制中，使用限值判定功能，也可以对主参数、副参数的上下限值（各1组）进行判定。
*ZM2371：most多分9类，未配备处理器接口。

复合测量 (ZM 2376)
复合测量是指对一个试样most多可指定32个步骤的测量条件测量，综合的进行合格判定的功能。可设定每个步

骤的测量频率、测量信号电平、内部DC偏压、测量参数等，对主参数的上下限值1组、副参数的上下限值1组进

行测量和限值判定。
*ZM2376独有的功能。

接口
标配远程控制用的各种接口。无需追加选购件就可对应生产线嵌入及自动检查系统等。

接口	ZM2371	ZM2372	ZM2376
USB	○	○	○
RS-232	○	○	○
GPIB	-	○	○
LAN	-	-	○（选购）
处理器	-	○	○

ZM2376 后面板

ZM2376 后面板.jpg

其他功能
补正功能（开路补正，短路补正，负载补正，电缆线补正）
设置、补正值存储（32组、保存在不挥发性储存中、可切换）
监视显示（电压、电流）
放电保护
样板程序（C#、VB.NET）
标配LabVIEW驱动＜ZM2371/ZM2372＞
IVI计测器驱动（在LabVIEW的系统上自动生成LabVIEW驱动）＜ZM2376＞

项目		ZM2371	ZM2372	ZM2376
测量参数		主参数：｜Z｜、｜Y｜、 L、 C、 R、 G 副参数： Q、 D、 θ、 X、 B、 Rs、 Rp、 G、 Lp、 Rdc
测量频率		1 mHz～100 kHz		1 mHz～5.5 MHz
基本精度		0.08 %
测量信号电平		10mVrms～5Vrms、1μArms～200mArms
内部DC偏置		0～ 2.5V		0～ 5V
测量时间	1kHz	most快2ms
	1MHz	—	—	most快2ms
定电压/ 定电流驱动（ALC）		○	○	○
接触检测		—	○（4端子）	○
低电容检测		—	—	○
比较器		○（9分类）	○（14分类）	○（14分类）
复合测量		—	—	○（32步骤）
处理器接口		—	○	○