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深圳市美程精密电子有限公司
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基本参数
品牌 | ELITE | 电源 | 交流 |
屏幕色彩 | 彩色 | 电源电压 | 220V |
型号 | XAU-50A | 额定电压 | 220V |
额定功率 | 220V | 执行质量标准 | 国标 |
质量认证 | CCC | 类型 | 镀层测厚仪 |
产地 | 深圳 | 测量范围 | 0.05um-50um |
分辨率 | 0.05um | 显示方式 | 数显 |
XAU系列能量色散X荧光光谱分析仪,是一款配备SDD探测器的高效率镀层测厚仪!
此款产品可适用于固体和液体的含量检测,用于液体中高含量金属成分的检测,满足高测试精度和高准确度。
搭配微聚焦X射线发生器和先进的光路转换聚焦系统,以及高敏变焦测距装置,可测试极微小和异形样品。
含量分析检出限最低1ppm,可检测镀层厚度0.005um ,最小测量面积0.04mm2 · 凹槽深度测量范围可达0至30mm,特殊要求可达90mm。
外置的高精密微型滑轨,可以快速控制样品移动,移动精度0.005mm,速度10-30mm(X-Y)/圈,再小再多的样品测试都可轻松操作。
技术参数: |
1.探测器:半导体冷却硅漂移SDD探测器 |
2.探测器分辨率:130±5ev (可检测元素范围:钠(Na)~铀(U)) |
3.涂镀层分析范围:各种元素及有机物 |
4.可一次性同时分析:23层镀层,24种元素 |
5.最小测量面积:0.04mm2 |
6.对焦距离:0-30mm,特殊要求可达90mm |
7.样品腔尺寸:500mm×360mm×215mm |
8.仪器尺寸:550mm×480mm×470mm |
9.仪器重量:45kg |
仪器配置: |
1.微焦X射线发生器 |
2.光路转换聚焦系统 |
3.高敏变焦测距装置 |
4.半导体冷却硅漂移SDD探测器 |
5.先进的数字多道分析 |
6.高精度微型移动滑轨 |
7.标准片Ni/Fe 5um |
8.标准片Au/Ni/Cu 0.1um/2um |
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